Kompletny zestaw eksperymentalny Badanie pow. struktur atom. i def. różnych próbek przez zast. skaningowego mikrosk. tunel.

Podstawy

Skaningowy mikroskop tunelowy służy do obrazowania (elektronicznego) topografii różnych próbek w skali nanoskopowej. Zmierzymy i przeanalizujemy fale gęstości ładunku i defekty struktury, poprzez skanowanie całej powierzchni i wykorzystanie narzędzi do analizy rozmieszczenia atomów. Jako potężne narzędzie do interpretacji i wizualizacji ukrytych struktur okresowych, posłuży nam dwuwymiarowa transformacja Fouriera i filtrowanie fourierowskie

Zadania

1. Przygotowanie końcówki tunelowania Pt/Ir i różne próbki powierzchni i ich zbliżenie.
2. Badanie topografii czystych płaszczyzn i odległości między sąsiednimi płaszczyznami.
3. Przetwarzania obrazu i charakterystyka struktur atomowych i fal gęstości ładunku.
4. Wyznaczenie, korzystając z dwuwymiarowej transformaty Fouriera, sieci odwrotnej rozmieszczenia atomów okresowej struktury powierzchniowej i porównanie k-przestrzeni z przestrzenią rzeczywistą.
5. Analiza struktury powierzchniowej poprzez wykorzystanie filtrowania i odwrotnej transformacji Fouriera.

Tematy powiązane

Zjawisko tunelowe, skaningowy mikroskop tunelowy, lokalna gęstość stanów (LDOS), struktura krystaliczna i rozmieszczenie atomów, fale gęstości ładunku, sieć odwrotna, strefa Brillouina, k-przestrzeń, defekty punktowe, struktury okresowe, dwuwymiarowe transformacje Fouriera, filtrowanie fourierowskie, odwrotna transformata Fouriera, autokorelacja

Skład zestawu