Podstawy
Polichromatyczne promieniowanie rentgenowskie skierujemy, po różnymi kątami, na monokryształ. Zostanie ono odbite od płaszczyzn sieci krystalicznej. Do pomiaru tych części promieniowania, które ulegają wzmocnieniu podczas interferencji, wykorzystamy detektor energii. Badając różne rzędy dyfrakcji i energię odbitych promieni, wyznaczymy stałą sieci krystalicznej.
Zadania
- Wyznacz energię promieni rentgenowskich, które odbijają się od płaszczyzn kryształu LIF pod różnymi kątami lub dla różnych rzędów dyfrakcji.
- Wyznacz stałą sieci dla kryształu LiF, na podstawie kątów i związanych z nimi wartości energii.
Tematy powiązane
Promieniowanie hamowania, charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie, poziomy energetyczne, struktury krystaliczne, sieci Bravais’a, sieci odwrotne, wskaźniki Millera, rozpraszanie Bragga, interferencja, detektory półprzewodnikowe, analizatory wielokanałowe
Skład zestawu
Aparat rentgenowski XR 4.0, 35 kV |
09057-99 |
1 |
Detektor promien. rentgenowskiego do aparatu XR 4.0 |
09058-30 |
1 |
Panel wsuwany z lampą wolframową do aparatu XR 4.0 |
09057-81 |
1 |
Goniometr do aparatu XR 4.0 |
09057-10 |
1 |
Analizator wielokanałowy |
13727-99 |
1 |
Kryształ LiF do XR 4.0, w uchwycie |
09056-05 |
1 |
Kabel do czujnika XRED aparatu rentgenowskiego, 50 cm |
09058-32 |
1 |
Program “Analizator wielokanałowy” |
14452-61 |
1 |
Kabel ekranowany BNC, l 750mm |
07542-11 |
1 |
TESS expert Fizyka Podr. Eksperymenty z prom. rentgenowskim (XT) z zestawem XR 4.0 expert unit |
01200-01 |
1 |
TESS expert Fizyka Podr. Eksperymenty z prom. rentgenowskim (XT) z zestawem XR 4.0 expert unit |
01200-02 |
1 |